超級(jí)電容器具有非常高的電阻值，但仍然存在漏電流產(chǎn)生。這種漏電流可以視為將超級(jí)電容器維持在規(guī)定電壓值所需的充電電流。然而，漏電流的測(cè)量結(jié)果會(huì)受到溫度、器件充電電壓及其老化條件的影響。在額定直流電壓和室溫下，大多數(shù)超級(jí)電容器數(shù)據(jù)表都會(huì)顯示漏電流性能，例如AVX 1的SCC系列超級(jí)電容器。

為了測(cè)量漏電流，我們可以使用電阻和內(nèi)阻阻抗較高的萬(wàn)用表進(jìn)行測(cè)試。首先，我們將超級(jí)電容器的額定電壓在常溫（25°）下充電72小時(shí)。然后，斷開(kāi)開(kāi)關(guān)SW（約10分鐘），讓超級(jí)電容器的溫度和內(nèi)部結(jié)構(gòu)穩(wěn)定。接著，合上開(kāi)關(guān)，用一個(gè)內(nèi)阻阻抗較高的萬(wàn)用表測(cè)量電阻（電阻值已知，便于計(jì)算）兩端的電壓。最后，我們可以通過(guò)公式漏電流DCL = V/R計(jì)算出漏電流的值。

需要注意的是，漏電流的值會(huì)隨著溫度、充電電壓和器件的老化條件的變化而變化因。此，在測(cè)試過(guò)程中需要保持穩(wěn)定的溫度和充電電壓，并使用已知的電阻值進(jìn)行計(jì)算。此外，對(duì)于不同的超級(jí)電容器型號(hào)和規(guī)格，其漏電流性能也會(huì)有所不同，因此需要根據(jù)具體的器件規(guī)格和數(shù)據(jù)表進(jìn)行測(cè)量和計(jì)算。
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